Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий


Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий — В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности.
Наряду с анализом тепловых моделей ППИ представлены новые оригинальные методы диагностического контроля их качества по теплоэлектрическим характеристикам, в частности методы контроля качества светоизлучающих диодов по частотным и токовым зависимостям модуля теплового импеданса и токовым зависимостям теплового сопротивления.
Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей.

Название: Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
Автор: Горлов М. И., Сергеев В. А.
Издательство: Ульяновск: УлГТУ
Год: 2015
Страниц: 406
Формат: PDF
Размер: 10,62 Мб
ISBN: 978-5-9795-1470-3
Качество: Отличное

Скачать Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
Скачать с dfiles.ru
Скачать с turbobit.net
Скачать с bezsms.org
Скачать с katfile.com
Скачать с file-upload.com


Не забудьте поделиться с друзьями:

Смотрите также:




Всего комментариев: 0
Добавлять комментарии могут только зарегистрированные пользователи.
[ Регистрация | Вход ]

Голосования

Статистика
Сейчас на сайте
Онлайн всего: 1
Гостей: 1
Пользователей: 0

Посетившие за день
[ Полный Список ]

Реклама